Usuário

Nome de usuário
Senha
Lembrar usuário
Esqueceu a senha?	Cadastro

Notificações

• Ver
• Assinar

Conteúdo da revista

Pesquisa

Escopo da Busca Todos Autores Título Resumo Termos Texto integral

Navegar

• Edições
• Por autor
• por título
• por Seção
• Outras Revistas
• Categorias

Informações

• Para leitores
• Para Autores
• Para Bibliotecários

Assinatura Entrar no sistema para verificar sua assinatura

Palavras-chave Förster effect bipolar transistor diagnostics etching gas temperature ionization kinetics magnetron sputtering mechanism memristor modeling molecular beam epitaxy plasma polymerization powerful LDMOS quantum dot reduced electric field strength resistive switching silicon silicon-on-insulator technology specific power

Edição corrente

Volume 54, Nº 4 (2025)