Radar-Shielding and Microwave-Absorbing Properties of Composite Materials Based on Shungite

Yu. V. Samukhina; Самухина Ю. В.; G. M. Nikoladze; Николадзе Г. М.; T. A. Kulkova; Кулькова Т. А.; A. K. Buryak; Буряк А. К.

doi:10.31857/S0044453723020231

Радиоэкранирующие и радиопоглощающие свойства композиционных материалов на основе шунгита

Авторы: Самухина Ю.В.¹, Николадзе Г.М.², Кулькова Т.А.¹, Буряк А.К.¹
Учреждения:
1. Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт физической химии и электрохимии им. А.Н. Фрумкина Российской академии наук
2. Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова
Выпуск: Том 97, № 2 (2023)
Страницы: 258-261
Раздел: ФИЗИЧЕСКАЯ ХИМИЯ НАНОКЛАСТЕРОВ, СУПРАМОЛЕКУЛЯРНЫХ СТРУКТУР И НАНОМАТЕРИАЛОВ
Статья получена: 27.02.2025
Статья опубликована: 01.02.2023
URL: https://vestnik-pp.samgtu.ru/0044-4537/article/view/668845
DOI: https://doi.org/10.31857/S0044453723020231
EDN: https://elibrary.ru/ELPKSB
ID: 668845

Цитировать

Полный текст

Открытый доступ
Доступ закрыт

Доступ предоставлен
Доступ закрыт

Только для подписчиков

Аннотация
Об авторах
Список литературы
Дополнительные файлы
Статистика

Аннотация

В работе рассмотрен шунгит в качестве наполнителя композиционных материалов, представляющий собой природный композит из углеродных наночастиц с разнообразными микро- и наноразмерными минеральными примесями, благодаря чему этот материал обладает высокой проводимостью и экранирующими электромагнитное излучение свойствами. Исследованы радиопоглощающие и экранирующие характеристики композиционного материала на основе мелкодисперсного шунгита и карбамидоформальдегидной смолы в диапазоне частот от 500 МГц до 4 ГГц. Определено влияние толщины образцов на электромагнитные свойства исследуемого композита.

Ключевые слова

шунгит, радиопоглощающие покрытия, экранирующие покрытия, композиционные материалы, экраны электромагнитного излучения

Список литературы

Duan Y., Guan H. Microwave Absorbing Materials. Singapore: Pan Stanford Publishing. 2017.
Ivankin P.F., Galdobina L.P., Kalinin Yu.K. // International Geology Review. 1987. V. 29. № 10. P. 1208.
Golubev E.A. // Physics of the Solid State. 2013. V. 55. № 5. P. 995.
Moshnikov I.A., Kovalevski V.V. // Materials Today: Proceedings. 2018. № 5. P. 25971.
McQueen D.H., Jäger K.M., Paligová M. // J. of Physics D: Applied Physics. 2004. V. 37. № 15. P. 2160.
Reghu M. // Physical Review B. 1994. V. 50. № 19. P. 13931.
Liu Z. // The J. of Phys. Chem. C. 2007. V. 111. № 37. P. 13696.
Bahadorzadeh M., Moghaddasi M.N., Attari A.R. // Progress In Electromagnetics Research Letters. 2008. V. 1. P. 45.
Araneo R., Lovat G. // IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility. 2009. V. 51. № 2. P. 247.
Yu L.G., Ahmad S.H., Appadu S. // World Journal Of Engineering. 2014. V. 11. № 4. P. 17.
Петухова Г.А., Кулькова Т.А. // Сорбционные и хроматографические процессы. 2021. Т. 21. № 1. С. 100.
Chung D.D.L. // Carbon. 2001. V. 39. P. 279.